モード質量の評価値における各測定値の影響度を調べることは興味深い。各測定値の影響は、G(ω)、H(ω)および以下の行列を計算することにより求められる。

F(ω)={f_ij(ω)}={h_ij(ω)g_ij(ω)}　(19)

　

モードの漏れ

今回は、この評価手法を使って、最初の4つの固有振動モードと、ライザーの渦励振以外の動きを含む0次モードの評価を行なっている。評価手法の高次モードに対する取扱いについても知る必要がある。5、6、7次の各モード形についても、測定値は一貫して存在するものと仮定する。図7に、これらのモード形から1次モード質量の評価値への周波数応答を示す。周波数の低い領域では、高次モードの影響が強く現れている。ここでは、高次の形状を持つ振動は、低周波で振動することはほとんど不可能である。3本の縦の破線は、5次、6次、7次の各モードの典型的な周波数である。しかし、これらの周波数の近辺でも、特に大きな減衰のない状態で、評価手法は高次モードを捉えていない。7次モードだけがわずかに増幅している。正確に言うと、ライザーの動きに(例えば)7次の固有振動モードが含まれているとすれば、すなわち、7次モード形が7次の固有振動数で振動しているとすれば、評価式(16)で、この成分は7次の固有振動数での1次モード形の振動であると仮定されることになる。これは、成分を周波数によって分解することが可能であることを意味する。これを利用したフィルタリングは、測定値m(ω)またはモード質量q(ω)に対して必要に応じて適用でき、どちらに適用しても結果は同じになる。フィルタリングの必要性の判断は、測定記録のスペクトル分析によって行なうことができる。

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