図1.1.6 予備実験の装置構成図(1電極下向溶接)
図1.1.7 予備実験でのビード断面写真(2ラン溶接)
図1.1.7の溶接結果を見ると1パスと2パスの層間にスラグ巻き込みによる欠陥が見られたもののビード形状はほぼ良好であった。2電極1ラン溶接で施工する方式を採用すれば、この溶接欠陥は解消できると判断し、上向2電極水平溶接方式として検討を進めることにした。 b. 船底側からの溶接方法の選定 図1.1.6で示した溶接装置を改良し、開先の下側に溶接トーチを配置し、開先内にほぼ水平にアークが発生する装置を試作した。(図1.1.8参照)
図1.1.7の溶接結果を見ると1パスと2パスの層間にスラグ巻き込みによる欠陥が見られたもののビード形状はほぼ良好であった。2電極1ラン溶接で施工する方式を採用すれば、この溶接欠陥は解消できると判断し、上向2電極水平溶接方式として検討を進めることにした。
b. 船底側からの溶接方法の選定
図1.1.6で示した溶接装置を改良し、開先の下側に溶接トーチを配置し、開先内にほぼ水平にアークが発生する装置を試作した。(図1.1.8参照)
図1.1.8 1電極水平上向溶接法の模式図
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