シール性能は、常温弁座漏洩試験、低温(実温)弁座漏洩試験において漏洩を計測して目標シール性能達成を確認評価する。

3)　試験項目と目標シール性能

シール性能(目標漏洩許容量：cc/min/inch/(試験圧力))

　

　

4)　計測項目

1]　弁座漏洩量：cc/min/inch(メスシリンダで計測)

2]　試験圧力：上記(試験圧力)MPaG

3]　耐久試験：弁の開閉を各500回実施して弁座漏洩試験で漏洩量確認

　

5)試験結果

　

備考)　ALT：常温弁座漏洩試験

CLT：低温弁座漏洩試験

　

3.5　FEMシール機構解析

FEMシール機構解析を行ってシール性能試験結果の評価及び今後のシール機構実用化への提案を行うものである。

1)　FEM解析シール機構

1]　ソリッドシール：8B弁

2]　Uタイトシール：8B弁

2)　FEM解析条件

1]　FEMプログラム：汎用非線形FEMプログラム(MARC U.S.A.)

2]　解析ケース：Table 1　3]　材料定数：Table 2　4]　解析モデル：図5

3)　FEMシール機構解析結果

1]　ソリッドシール；シール接触部反力：図6

2]　Uタイトシール；シール接触部反力：図7、シール接触点変位：図8

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