すべての信号線を一つに束ねて試験印加電圧を印加した場合はアナログ出力に多少の変動(-1%)がみられたが基準値の±3%を超えることはなかった。

したがってスポット周波数において10Vの試験印加電圧の場合は基準内となった。

次にこの対策例5において連続周波数(10kHz〜80MHz)で試験印加電圧3Vを印加した。図49に結果を示す。

　

図49　対策例5の時の出力変動(連続周波数10kHz〜80MHz)

　

この結果、対策例5の状態において、IEC60945の要求基準である連続周波数において3Vの試験印加電圧、スポット周波数において10Vの試験印加電圧では基準内であり、性能基準Aを満足した。

(3)　考　察

試験印加電圧の影響がもっとも大きかった周波数が25MHzであったため、この付近の周波数において減衰量の大きな特性を持った3種類(ZJK51R5-00、DFD104P、B-6-31B)のEMIフィルタを選定し、フェライトコアについては10MHz〜500MHzまで使用出来、かつ高周波ノイズの吸収効果の良いものを選んだ。

3種類のEMIフィルタをアクチュエータ出力端子及びアナログ出力端子に挿入して検討を行なったが十分な効果は得られなかったため、フィルタをEMIフィルタからフェライトコアに替えて検討を行なったところ、アクチュエータ出力/アナログ出力線に挿入した場合は十分な効果を得ることが出来た。

このことから次のことが考えられる。

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