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図4.3-6 EDXによるハニカム表面成分マッピング
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図4.3-7 EDXによるハニカム断面成分マッピング
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図4.3-8 EDX組成分析(表面)
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図4.3-9 EDX組成分析(断面)
図4.3-5に示すようにXRD分析の結果からみると、ハニカムに担持した場合(a)には20〜30度付近に、担体成分に起因すると思われるブロードなピークが現れる以外はMn2O3とZrO2の存在が確認でき、あわせて示した粉体(b)とほぼ同等のピークを示すことがわかる。
また、図4.3-6〜4.3-9に示すように、SEM−EDX分析の結果から、MnとZrがほぼ1対1の組成比均一に分布しており、また、表面だけでなく担体内部まで担持されていることがわかる。
