3.2.4　単体試験結果

(1)　概要

基準時刻部の基本性能の中で以下の項目についての試験を行った。

・RF OUT、TTL OUTのレベルの確認

・周波数のオフセットについての確認

　

(2)　試験回路

以下に試験回路を示す。

　

図3-1　試験回路

　

(3)　試験方法

a.　RF OUT、TTL OUTレベル測定

各端子をオシロスコープに接続(50Ω)し、以下の項目について確認を行う

RF OUT：0.225Vrms(OdBm/50Ω)以上であることを確認する。

TTL OUT：2.4V以下(High Level)

0.8V以下(Low Level)

20ns以下(Rise time)

　

b.　周波数オフセット測定

RF OUT1を50Ωの周波数カウンタに接続する。周波数カウンタにはセシウム発振器を接続する。(精度は1×10^-12以上とする)

フロントパネルのポテンショメータをMIN、MAXに設定し、RF OUT1出力周波数を測定する。

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