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図43 挿入例の違いによるアナログ出力変動の変化

 

C-5 本試験

注 : 測定器の影響を調べ影響がないことが確かめられたので、試験を継続することとなった。

ダミー回路の試験結果に基づいて、ダミー抵抗と供試品を入れ替え、リレー回路廻りの信号線を挿入例8と同様のセットアップにした。

これにより測定系の回路及び電線は試験印加電圧の影響を最小限にすることができる。

つづいて供試品を接続した状態でIEC90945の要求基準の条件に基づき試験を行なった。その時のアクチュエータ及びアナログ出力の変動を図44に示す。

供試品は伝導無線周波数妨害イミュニティ対策を施していない状態とした。

この結果、周波数25MHzで試験印加電圧の影響を受けていることがわかったため、供試品の伝導無線周波数妨害イミュニティによる誤作動対策を施すことにした。

 

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スポット周波数

印加電圧 : 10V

印加箇所 : アクチュエータ/アナログ出力線

供試品は伝導無線周波数妨害イミュニティ対策を施していない状態である。

図44 アクチュエータ及びアナログ出力の変動

 

 

 

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