部品リスト 1 フェライト・リングコアφ36×φ23×15mm 10個のリング、型式4C65、NiZn、μ=100 26個のリング、型式3C11、MnZn、μ=4300 2 溝に密着した銅箔の半円荷 3 下部の導体板 4 接地バー 5/6 被試験ケーブルを満に押し付けるための機構 圧縮ばねをもつ絶縁物の部品(表示せず) 7 フェライト管、4C65 8 同軸ケーブル、50ΩBNCコネクタ付き 9 Z1を切り離すためのスイッチ 10 2番目の部品のためのスロット 11 弾力のあるフェライト固定具(上部の半リング) 12 下部の絶縁板 13 Z1、Z2のための保護板 EUT: 供試機器 Z1 : 直列インピーダンス : C1 : 20-100pF、L1 : 0.15uH、R1 : 50Ω/12W Z2 : 直列インピーダンス : L2 : 0.8uH、R2 : 50Ω/12W
部品リスト
1 フェライト・リングコアφ36×φ23×15mm
10個のリング、型式4C65、NiZn、μ=100
26個のリング、型式3C11、MnZn、μ=4300
2 溝に密着した銅箔の半円荷
3 下部の導体板
4 接地バー
5/6 被試験ケーブルを満に押し付けるための機構
圧縮ばねをもつ絶縁物の部品(表示せず)
7 フェライト管、4C65
8 同軸ケーブル、50ΩBNCコネクタ付き
9 Z1を切り離すためのスイッチ
10 2番目の部品のためのスロット
11 弾力のあるフェライト固定具(上部の半リング)
12 下部の絶縁板
13 Z1、Z2のための保護板
EUT: 供試機器
Z1 : 直列インピーダンス : C1 : 20-100pF、L1 : 0.15uH、R1 : 50Ω/12W
Z2 : 直列インピーダンス : L2 : 0.8uH、R2 : 50Ω/12W
図3 EMクランプの概要
試験は試験発生器を使って順次各CDNに接続して行うこと。他のRF入力ポートは50Ωの負荷抵抗で終端させたCDNに接続して実施する。 試験発生器の出力レベルは無変調状態で設定し、試験の間は変調をかけておく。 図4に試験発生器の概要を、図5に無変調時と変調時の出力波形を示す。
試験は試験発生器を使って順次各CDNに接続して行うこと。他のRF入力ポートは50Ωの負荷抵抗で終端させたCDNに接続して実施する。
試験発生器の出力レベルは無変調状態で設定し、試験の間は変調をかけておく。
図4に試験発生器の概要を、図5に無変調時と変調時の出力波形を示す。
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