(c) 指定された正規の冷却条件で試験する。周波数は定格値とする。ただし、冷却装置の入力以外は定格周波数が50Hzあるいは60Hzの場合は、いずれの周波数を用いても差し支えない。直流側は短絡あるいは電流調整の目的で低抵抗を挿入する。
(7) 無負荷(軽負荷)温度試験
(a) 無負荷又は軽負荷状態で半導体整流器の交流電圧を定格交流電圧に保ち、サイリスタ及び整流ダイオードの付属物その他の温度に異常のないことを確かめる。
(b) 指定された正規の冷却条件で試験する。電源電圧の波形はなるべく正弦波に近く、周波数は定格値とする。ただし、冷却装置の入力以外は定格周波数が50Hzあるいは60Hzの場合は、いずれの周波数を用いても差し支えない。
(8) サイリスタ整流器のトリガ装置の性能試験
指定された入力電圧の変動範囲において、異常なく作動することを確かめる。定められた位相制御角のすべての範囲にわたってトリガ装置が異常なく作動することは、前(3)及び(4)の各試験において確かめられる。
この試験において、実際の運転におけるすべての負荷条件に対応するトリガ装置の動作状態を確認することが不可能な場合が多い。実使用状態における性能試験を必要とする場合は使用者と製造者間で協議すること。
2・8・2 防爆形電気機器
各種の防爆形電気機器のうち、ここでは、船で一般に使用されている耐圧防爆構造、安全増防爆構造及び本質安全防爆構造の主な試験・構造について述べる。
(1) 機器の防爆にかかわる記号
機器の防爆にかかわる各種記号及びそれらの意味は、表2・21のとおりである。
