(備考)
(1) 空間距離L-Lは、裸充電部間及び充電部と接地金属体との間に適用する。
(2) 空間距離L-Aは、充電部と絶縁が劣化することによっても充電部となる絶縁金属体との間に適用する。
(3) 沿面距離は、絶縁物の種別及び形状によって決める。
“a”は、セラミック(ステアタイト、磁器)及び他の絶縁材料であって、特に漏れ電流に対し安全なリブ又は垂直面をもった絶縁物で、実験的にセラミックを用いたと同様と認められるもので比較トラッキングインデックス(CTI)140以上の材料(例えば、フェノール樹脂成形品等)に適用する。
“b”は、その他の絶縁材料の場合に適用する。
(4) 空間距離L-Aが、それに対応した沿面距離“a”又は“b”よりも大きい場合には、裸充電部と操作者が容易に触れることができ、かつ、絶縁が劣化することによって充電部となる絶縁金属体との間の沿面距離は、L-A以上であること。
(5) 電流値は、定格通電電流の値で示す。
H2.1.5 絶縁距離の決定方法
絶縁距離の決定方法は、検査要領H2.7.1(制御用器具の絶縁距離)による。