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10. 試験の実施

 

注1 : 試験手順としては、IEC60945第3版の他、IEC1000-4-5 : 1995、IEC1000-4-6 : 1996、IEC1000-4-11 : 1994の試験及び測定技術に準拠した。

注2 : イミュニティ試験及び電磁放射レベル(エミッション)の低減対策及び測定については、

1]平成10年度にイミュニティ試験及び電磁放射レベル(エミッション)の測定と対策を行なったが対策が不十分であり、結果は基準外になった供試品があった。今回これらの供試品について再度対策を行ない試験を実施した。今回対策を行なった試験項目と供試品を表8に示す。

 

表8 対策を行なった試験項目と供試品

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2]対策手順

誤作動防止対策の基本方針は平成10年度の報告書に記載したとおりである。この基本方針をもとに対策を行なった。

設計変更はしないで現状の供試品で対策を行なうことを前提にして、シールドの強化、他の種類のEMIフィルタ等の使用で対策を行なうことにした。

使用したEMIフィルタ等の対策部品を資料5に示す。

 

10.1 電磁放射レベル(エミッション)測定

 

10.1.1 電磁放射レベル(エミッション)測定試験

 

(1) 電力制御装置

1) ノイズ発生の対策

平成10年度に使用したEMIフィルタ、電源フィルタを取り付けて鉄製の箱に入れて測定を行なったが大きな改善は見られなかった。

このため伝導経路は主に入出力線でありEMIフィルタの効果が不十分であると考えられる。

2) シールド及びグランドの強化対策

供試品のケースのシールドとグランドを強化するため、ケース各部の接合部の塗装を剥がし電気的な接合をより確実にした。

その結果27MHz〜30MHzで改善されたが十分ではなかった。

 

 

 

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